中国粉体网讯  当X光穿过存在微观不均匀区（如超微颗粒、微孔、杂质、位错、空穴等散射体）的介质时，将发生散射现象，由于散射体大小比X光波长大的多，散射的角域很小（±2°左右），故称X光小角散射。

    对单个球状颗粒，散射强度

    I=I0m2Φ2(KR)
其中

    m：颗粒中的电子数与同体积的周围介质中的电子数之差，可写为m=ρeV(R)，ρe为颗粒与其周围介质的电子密度差

    Φ(KR)：球状颗粒的散射函数Φ(KR)=(sinKR-KRcosKR)，K=4πsinθ/λ，λ为入射X光波长，sinθ≌，ε是散射角

    因此，散射强度可写成I=I0V(R)R3Φ2(KR)。

对多分散颗粒系统，设粒度分布函数为W（R），则有

I（Kj）=   i=1,2,….n

    式中，系数aji=C,C是常数，从而由实验检测得到的不同散射角的散射强度，由该式即可计算出粒度分布。

    X光小角散射仪已有进口商品仪器，其粒度测试范围为0.003μm~0.5μm。方法要注意两点：1，如同激光粒度仪一样，有复散射问题；2，由于X光散射与颗粒中电子数有关，因此，当颗粒表面氧化（如金属颗粒）或表面吸水（如氧化物等）时，电子数会变化，计算需要修正。