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2011-02-22
编号：CPJS00522
篇名：用光声技术研究半导体TiO_2,ZnO纳米晶粉的光学特性
作者： 列光华; 唐志列; 杨挺; 唐秀文;
关键词： 光声光谱; 纳米颗粒; 半导体纳米晶粉;
机构： 华南师范大学物理与电信工程学院; 湛江师范学院物理系; 华南师范大学分析测试中心;
摘要： 应用新型的光声光谱技术,研究了不同种类和不同制备工艺条件的半导体纳米晶粉的光学特性,测量了半导体TiO2、ZnO和掺铝ZnO纳米晶粉的光声光谱,获得了这些半导体纳米晶粉的带隙和光谱吸收系数。研究结果表明,相同种类和相同颗粒形状的半导体纳米晶粉的粒径越小,光学吸收系数越大。半导体纳米晶粉的带隙与相同种类纳米颗粒形状(圆球形或棒形)密切相关。通过掺杂、改变粒径尺寸、改变形状可以达到改变纳米晶的光学、电学特性的目的。
原文： 引言光声光谱技术是通过测量物质吸收光后所产生的光声信号进行光谱测量的新型光谱技术。由于光声信号与散射光无关。因此特别适用于颗粒、粉末、污迹和混浊液体等强散射物质的光谱检测与分析,在材料科学[1,2]、生物医学[3,4]等领域具有广泛的应用。用光声光谱技术测量纳米晶粉
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