编号：CYYJ01271

篇名：钯复合膜表面缺陷修饰材料的研究

作者： 徐天莹[1] ;俞佳枫[1] ;张继新[1] ;徐恒泳[1]

关键词： 金属钯复合膜 透氢性能 分子筛 氧化铝 缺陷

机构： [1]中国科学院大连化学物理研究所,大连116023

摘要： 利用钯膜分离氢是高纯或超纯氢气生产的主要方式，然而，钯膜表面缺陷是影响氢分离纯度的主要因素。本文选择NaA分子筛和γ-Al2O3两种缺陷填充材料对初镀后的钯膜表面缺陷进行修饰，发现两种材料修饰后钯膜透氮量分别下降了57和2倍，NaA分子筛材料修饰后钯膜的透氮量为未修饰钯膜的1/2500。经过补镀和活化后，在相同钯膜厚度（2.5μm）条件下，三种钯膜透氮量分别为1.91×10^-2、6.12×10^-3和4.89×10^-3 m^3/h·m^2·bar[改成标准单位mPa]。不同修饰材料修饰的钯膜的氢氮分离因子顺序为NaA分子筛 〉 γ-Al2O3 〉 无修饰，说明通过修饰钯膜缺陷的方法可提高钯膜的氢分离选择性，且用NaA分子筛材料要优于γ-Al2O3材料，因为NaA分子筛在缺陷中可根据缺陷形状原位生长，更能有效填补缺陷。NaA分子筛材料修饰后的钯膜经过20次300-400℃以及0.1-1.0MPa的温度和压力循环仍保持性能不变，具有较高的稳定性。