编号：CYYJ02326

篇名：高精度硅同位素分析方法研究进展

作者： 王俊霖 王微 魏海珍

关键词： Si同位素 高精度分析方法 碱熔法 地质储库硅同位素组成

机构： 南京大学地球科学与工程学院内生金属矿床成矿机制研究国家重点实验室 中国地质大学（武汉）紧缺战略矿产资源协同创新中心 中国科学院比较行星学卓越创新中心

摘要： 基于碱熔法的改进和多接收电感耦合等离子质谱仪(MC-ICP-MS)的发展,近年来高精度Si同位素组成(δ30Si)分析方法取得了长足进步,分析精度(2SD)自气体质谱仪(GS-MS)时代的±0.15‰~±0.30‰提高到优于±0.10‰,足以辨析高温过程中Si同位素发生的微小分馏,并且避免了实验流程中使用含氟等危险化学品。二次离子质谱(SIMS)和飞秒激光剥蚀(fs LA)的发展使得原位Si同位素组成分析精度近期也优化到±0.10‰~±0.22‰。文章对近年来Si同位素分析方法的发展沿革进行综述,探讨建立溶液法MC-ICP-MS的高精度Si同位素分析方法的进展与局限,并比对了国内外各个实验室已发表国际国内Si同位素标准物质测定值,最后总结了硅酸盐地球(BSE)、地壳和陨石等主要地质储库的δ30Si组成范围。